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自动化测试新方法!你知道自动测试设备(ATE)吗?

发布时间:2022-06-15 10:00人气:

  过去,大型生产环境和实验室是研发的主要场所,这导致市场上大多数都是功能齐全的桌面设备。然而,越来越多的测试和验证团队正在寻找更便携、更经济、更有效的解决方案,他们不需要复杂的GPIB接线和特殊软件。一般来说,如果没有专业的技术人员,自动测试设备(ATE)将很难调试,现在测试工程师可以体验到可以连接到通用软件平台API的编程组件的灵活性。

  现状

  ATE可以是一个简单的测试,使用少量的设备或大型复杂的测试,包括检测站、气动自动化和机器人自动化。与传统的半自动或手动测试相比,PC驱动的有源组件可以提供巨大的优势。

  在射频领域,矢量网络分析仪(VNA)或频谱分析仪等测试设备的接收端口数量有限,因此有必要增加物理调整设置的次数,以获得测量多端口设备(DUT)所需的所有检测排列,以便对其进行综合测试。所有这些测试设置的安排不可避免地增加了成本和时间。例如,8路射频交换机有9个测试端口,需要大量的测试迭代来收集所有81个S参数。如果没有自动开关,测试可能需要大量人力。DUT的每个单独的S参数通过预先编程的内部开关排列进行测试。标准VNA的2-4个端口足以在一个测试迭代中测试所有参数。

  优势

  常用的射频组件包括移相器、射频开关和数字衰减器,以及一些更复杂的测试设备,如VNA、信号发生器、脉冲发生器和功率计。通常,需要手动控制特定输出的射频组件,需要重新格式化测试设备数据,以便分析和共享数据。

  例如,传统上,数字衰减器由晶体管-晶体管逻辑(TTL)控制,其中低电压产生0的逻辑电平,高电压产生1的逻辑电平。这些逻辑电平决定了数字衰减器中所需的衰减路径。这种方法需要复杂的编程、TTL驱动程序和大量的互连。这种复杂性可以通过USB设备消除,如彩虹数字衰减器。它的衰减级别可以直接编程,无需TTL连接,只需要一个USB连接。

  通常,测试可能需要工程师监控和调整各种输出,以实现需求,跟踪所有旋钮、按钮、适配器和插头,有时可能容易出现人为错误。红科提供了一个软件平台和操作指南,可以简化测试过程,更容易跟踪控制器、笔记本电脑或计算机,并帮助设计和测试工程师轻松评估DUT性能。


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